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幅頻特性測試儀

簡要描述:

牛頓幅頻特性測試儀(FRA)是一種高精度測量儀器,用于在頻域中分析組件,電路和系統(稱為被測設備或DUT)。

發布日期:2024-01-02

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一、幅頻特性測試儀概述

      什么是頻率響應分析儀? 頻率響應分析儀(FRA)是一種高精度測量儀器,用于在頻域中分析組件,電路和系統(稱為被測設備或DUT)。牛頓頻率響應分析儀通常會生成一個正弦值號,并將其注入被測組件,電路或系統中。使用FRA上的一個輸入通道(通常是通道1)在注入點測量該值號,注入信號通過被測設備,并且頻率響應分析儀在第二個參考點同時測量同一信號-通常是使用通道2的系統輸出,使用正弦波可以確定系統的頻域行為(頻率響應)。

PSM1700(600 312).jpg

二、幅頻特性測試儀應用范圍
      對于任何硬件工程師來說,頻率響應分析儀都應被視為與示波器一樣重要,它是一種主要的設計工具,它將在任何硬件工程師的測試臺上發揮重要作用。重要的是要記住,N4L FRA是精密儀器,具有經過校準的輸入并提供通常僅在計量學中才能看到的測量精度。
       FRA可用于表征輸入濾波器電路的增益/相位響應,確定晶體管的AC信號行為,確定伺服電機控制系統是否穩定,使工程師能夠確定設備的傳遞函數或子系統。這些只是頻率響應分析儀可以應用的成千上萬種應用中的幾種。

頻率響應分析儀(1).png

頻率響應分析儀.png

三、技術規格

型號                SFRA45                PSM1700                PSM1735                PSM3750                
基本精度                0.02dB                0.02dB                0.01dB                0.01dB                
相位精度                0.025°                0.02°                0.02°                0.05°                
頻率范圍                5Hz~45MHz                10uHz~1MHz                10uHz~35MHz                10uHz~50MHz                
測量                實時DFT                實時DFT                實時DFT                實時DFT                


四、其他產品

      OP6030是一款超高共模抑制比的隔離電壓探頭。傳統的差分探頭的共模抑制比在高頻段下降很快,導致準確測量高共模干擾電壓下的小電壓信號波形(比如測量半橋電路的上管的驅動電壓)極其困難。OP6030釆用了射頻隔離技術,從而在整個工作帶寬(50MHz)內具有超高的共模抑制比,可以幫助我們的客戶用很低的成本完成這類挑戰性的測量。


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