一、SIGLENT/鼎陽(yáng) SNA5084X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀?概述

       SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（Vector Network Analyzer），其測(cè)量頻率高達(dá)8.5GHz,支持4端口S參數(shù)測(cè)量，差分(平衡)測(cè)量，時(shí)域測(cè)量，濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測(cè)量，支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展功能，支持極限測(cè)試、紋波測(cè)試功能，支持夾具仿真和去嵌入功能，支持線性頻率掃描、對(duì)數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式，支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校準(zhǔn)方法，可廣泛應(yīng)用于濾波器，雙工器，天線，有源器件，射頻線纜等領(lǐng)域的研發(fā)，生產(chǎn)制造。

二、SIGLENT/鼎陽(yáng) SNA5084X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀??主要特性

1、頻率范圍：9 kHz ~ 4.5/8.5 GHz

2、輸出功率設(shè)置范圍： -55 dBm ~ +10 dBm

3、動(dòng)態(tài)范圍：125dB

4、支持2/4端口S參數(shù)測(cè)量、差分（平衡）測(cè)量、時(shí)域分析

5、支持濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測(cè)量

6、支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展、夾具仿真和去嵌入功能 

三、主要特點(diǎn)：消除夾具效應(yīng)

       在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。?? 

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四、規(guī)格參數(shù)